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GB/T 19290.1-2003 发展中的电子设备构体机械结构模数序列 第1部分: 总规范

时间:2024-05-15 14:47:15 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8787
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基本信息
标准名称:发展中的电子设备构体机械结构模数序列 第1部分: 总规范
英文名称:Modular order for the development of mechanical structures for electronic equipment practices—Part 1:Generic STANDARD
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 电子设备专用材料、零件、结构件 >> 电子设备机械结构件
ICS分类: 电子学 >> 电子设备用机械构件
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2003-09-15
实施日期:2004-05-01
首发日期:2003-09-15
作废日期:1900-01-01
主管部门:国家标准化管理委员会
提出单位:中国电器工业协会
归口单位:全国电工电子设备结构综合标准化技术委员会
起草单位:机械工业北京电工技术经济研究所
起草人:李晓静、张钰、李绍峰
出版社:中国标准出版社
出版日期:2004-02-01
页数:平装16开, 页数:16, 字数:34千字
书号:155066.1-20191
适用范围

本标准等同采用IEC 60917-1:1998《发展中的电子设备构体机械结构模数序列 第1部分:总规范》(英文版),包括其修改1:IEC 60917-1-Amd 1:2000。本部分涉及设备构体。模数序列用于安装在各种必须考虑尺寸接口的设施中的电子设备主要结构尺寸。

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所属分类: 电子元器件与信息技术 电子设备专用材料 零件 结构件 电子设备机械结构件 电子学 电子设备用机械构件
【英文标准名称】:Surfacechemicalanalysis-Secondary-ionmassspectrometry-Determinationofrelativesensitivityfactorsfromion-implantedreferencematerials
【原文标准名称】:表面化学分析.次级离子质谱法.测定离子注入标样的相对灵敏系数
【标准号】:BSISO18114-2003
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2003-08-07
【实施或试行日期】:2003-08-07
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:次级离子质谱法;化学分析和试验;光谱测定法;精整;硼;标准材料;含量测定;元件
【英文主题词】:Boron;Chemicalanalysisandtesting;Determinationofcontent;Elements;Finishes;Referencematerials;Secondary-ionmassspectrometry;Spectrometry
【摘要】:ThisInternationalStandardspecifiesamethodofdeterminingrelativesensitivityfactors(RSFs)forsecondary-ionmassspectrometry(SIMS)fromion-implantedreferencematerials.Themethodisapplicabletospecimensinwhichthematrixisofuniformchemicalcomposition,andinwhichthepeakconcentrationoftheimplantedspeciesdoesnotexceedoneatomicpercent.
【中国标准分类号】:G73
【国际标准分类号】:71_040_40
【页数】:14P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:
【原文标准名称】:溶解浆试验方法
【标准号】:JISP8101-1976
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1976-03-01
【实施或试行日期】:1976-03-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;溶质;溶解;纸浆
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y30
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】: